全新發(fā)布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實(shí)現了在同一系統中對樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。