飛納電鏡彩色成像技術(shù)

飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM，將 SEM 形貌觀(guān)察與 EDS 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡(jiǎn)化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過(guò)彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實(shí)時(shí)疊加，在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

實(shí)時(shí)分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復雜的，對于產(chǎn)品故障分析和污染物識別等應用，研發(fā) 需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現的問(wèn)題。 ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時(shí)分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了優(yōu)勢。它的 EDS 集成在儀器中，并在電鏡工作時(shí)始終在后臺收集成分數據，逐步建立樣品更全面和詳 細的信息，幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問(wèn)題。實(shí)時(shí)定量面掃：不再有

實(shí)時(shí)定量面掃：不再有分析干擾 傳統的元素分析中，復雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時(shí)得到精確的結果。例 如，一個(gè)峰的信號有時(shí)會(huì )被識別為兩個(gè)元素，產(chǎn)生錯誤，干擾樣品Q(chēng)C 問(wèn)題的判斷。 憑借創(chuàng )新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗室團隊實(shí)現準確的 元素識別和量化—— 即使在處理多個(gè)重疊元素時(shí)也是如此。

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ChemiSEM 定量面掃：飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM 自動(dòng)處理原始信號，生成定量面掃結果。數據被很好地解析，能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。并且使用算法同時(shí)處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號，從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和 元素定量結果。

無(wú)偏差相分析 傳統的相分析高度依賴(lài)于對樣品的假設，當存在譜峰重疊或強度不足而遺漏了元素時(shí)， 這可能會(huì )是一個(gè)問(wèn)題。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術(shù)中的一項新功能）后，可以避免這種情況。復雜樣 品的分析能夠做到無(wú)偏差，可以基于數據單元中所有光譜結果，系統地識別每個(gè)獨 立的相。隨后，數據分析可以在沒(méi)有任何元素預定義的情況下自動(dòng)運行，無(wú)需豐富經(jīng)驗 即可定位次要/微量元素，明確識別主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

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使用 ChemiPhase 對地質(zhì)切片的分析，每個(gè)相的能譜成分被自動(dòng)提取和計算，可以將不同礦物相有效區分。

自動(dòng)樣品漂移校正 成分分析過(guò)程中，準確和有效的定量結果需要一個(gè)正確且穩定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數據，或者等待樣品停止漂 移后再獲取數據，這兩種方式都會(huì )降低測試效率。 通過(guò)不斷監控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動(dòng)樣品漂移校正，使高倍率操作和較長(cháng) 時(shí)間的能譜采集成為可能。幫助大家節省寶貴的時(shí)間和精力，專(zhuān)注于更重要的事情：盡 快獲取最高質(zhì)量的數據。